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AT-512直流低電阻測(cè)試儀優(yōu)惠

簡(jiǎn)要描述:

AT-512直流低電阻測(cè)試儀優(yōu)惠是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的精密電阻測(cè)試儀。它可以量測(cè)0.1μΩ~110MΩ的電阻,Z大顯示105,000數(shù)。Z高測(cè)試速度可達(dá)150次/秒,基本準(zhǔn)確度高達(dá)0.01%。它的寬范圍測(cè)試可以適應(yīng)各種不同要求的測(cè)試。

發(fā)布日期:2023-12-29 瀏覽量:634

AT-512直流低電阻測(cè)試儀

AT-512是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的精密電阻測(cè)試儀。它可以量測(cè)0.1μΩ~110MΩ的電阻,zui大顯示105,000數(shù)。zui高測(cè)試速度可達(dá)150次/秒,基本準(zhǔn)確度高達(dá)0.01%。它的寬范圍測(cè)試可以適應(yīng)各種不同要求的測(cè)試。

AT-512直流低電阻測(cè)試儀

技術(shù)規(guī)格
基本準(zhǔn)確度:0.01%
105000數(shù)顯示位數(shù)
十一個(gè)量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試
提供0.1μΩ ~ 110MΩ測(cè)試范圍。
150次/秒的測(cè)試速度。
四端測(cè)試
雙顯示:顯示直讀值的同時(shí)可顯示*偏差(ΔABS)、相對(duì)偏差(Δ%)或分選輸出結(jié)果(GD/NG)。
提供快速大電流、快速小電流不同的測(cè)試模式可適用于不同性質(zhì)的被測(cè)件。

AT-512直流低電阻測(cè)試儀

性能特征

高亮度,超清晰四色VFD顯示。
校正功能:全量程短路清零功能 。
比較器(分選)功能:內(nèi)建有30檔分選數(shù)據(jù),可對(duì)被測(cè)件進(jìn)行GD/NG,HI/IN/LOW判斷。
比較器輸出:可通過(guò)內(nèi)置Handler接口、RS232C或選配IEEE-488接口輸出更為詳細(xì)的分選結(jié)果。
訊響:可設(shè)置所有比較器結(jié)果訊響開(kāi)關(guān)。
用戶可以根據(jù)自己需要設(shè)置GD/NG訊響和調(diào)節(jié)顯示亮度。
鍵盤(pán)鎖定功能。
內(nèi)置接口:Handler接口、RS232C接口。
可選IEEE-488接口。
兼容SCPI指令集,總線數(shù)據(jù)和命令使用ASCII碼傳輸,完成所有儀器功能。兼容IEEE-488.1和IEEE-488.2。
多種觸發(fā)方式:內(nèi)部觸發(fā)、手動(dòng)觸發(fā)、外部觸發(fā)和遠(yuǎn)程觸發(fā)。
應(yīng)用
高精度的高、中、低值電阻器;
各種開(kāi)關(guān)接觸電阻;
接插件接觸電阻;
繼電器線包和觸點(diǎn)電阻;
變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻;
導(dǎo)線電阻;車(chē)、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻;
印制版線條和孔化電阻等。

 

 

 

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